(0)

首頁 SCI 期刊工程技術(shù)期刊中科院4區(qū) JCRQ3 期刊介紹(非官網(wǎng))

數(shù)據(jù)庫收錄SCIE
創(chuàng)刊年份1998年
年發(fā)文量64
H-index38

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine

期刊中文名：IEEE 儀器與測量雜志ISSN：1094-6969E-ISSN：1941-0123

該雜志國際簡稱：IEEE INSTRU MEAS MAG，是由出版商Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本致力于發(fā)布工程技術(shù)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究為重點(diǎn)，主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果，扼要報(bào)道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展，選載對學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論，促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展，為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國際優(yōu)秀雜志，在國際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。

基本信息：: 期刊簡稱：IEEE INSTRU MEAS MAG; 是否OA：未開放; 是否預(yù)警：否; Gold OA文章占比：0.00%

出版信息：: 出版地區(qū)：UNITED STATES; 出版周期：Quarterly; 出版語言：English; 出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

評價(jià)信息：: 中科院分區(qū)：4區(qū); JCR分區(qū)：Q3; 影響因子：1.6; CiteScore：4.2

投稿咨詢加急咨詢

雜志介紹中科院JCR分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 投稿經(jīng)驗(yàn)

雜志介紹

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine雜志介紹

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》是一本以English為主的未開放獲取國際優(yōu)秀期刊，中文名稱IEEE 儀器與測量雜志，本刊主要出版、報(bào)道工程技術(shù)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的研究動(dòng)態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗(yàn)和科研成果，介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展，探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法，以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流，提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動(dòng)作用，也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為1.6，最新CiteScore 指數(shù)為4.2。

英文介紹

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine雜志英文介紹

IEEE Instrumentation & Measurement Magazine is a bimonthly publication. It publishes in February, April, June, August, October, and December of each year. The magazine covers a wide variety of topics in instrumentation, measurement, and systems that measure or instrument equipment or other systems. The magazine has the goal of providing readable introductions and overviews of technology in instrumentation and measurement to a wide engineering audience. It does this through articles, tutorials, columns, and departments. Its goal is to cross disciplines to encourage further research and development in instrumentation and measurement.

中科院SCI分區(qū)

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine雜志中科院分區(qū)信息

2023年12月升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 4區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 4區(qū)

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區(qū)

2022年12月升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 4區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 4區(qū)

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區(qū)

2021年12月舊的升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 4區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 4區(qū)

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區(qū)

2021年12月基礎(chǔ)版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 4區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 4區(qū)

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區(qū)

2021年12月升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 4區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 4區(qū)

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區(qū)

2020年12月舊的升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術(shù) 4區(qū)

小類：

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣 4區(qū)

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區(qū)

中科院SCI分區(qū)：是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心科學(xué)計(jì)量中心的科學(xué)研究成果。期刊分區(qū)表自2004年開始發(fā)布，延續(xù)至今；2019年推出升級版，實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)版、升級版并存過渡，2022年只發(fā)布升級版，期刊分區(qū)表數(shù)據(jù)每年底發(fā)布。中科院分區(qū)為4個(gè)區(qū)。中科院分區(qū)采用刊物前3年影響因子平均值進(jìn)行分區(qū),即前5%為該類1區(qū)，6%～20%為2區(qū)、21%～50%為3區(qū)，其余的為4區(qū)。1區(qū)和2區(qū)雜志很少，雜志質(zhì)量相對也高，基本都是本領(lǐng)域的頂級期刊。

JCR分區(qū)（2023-2024年最新版）

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine雜志 JCR分區(qū)信息

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)

學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

收錄子集：SCIE

分區(qū)：Q3

排名：239 / 352

百分位：

32.2%

學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION

收錄子集：SCIE

分區(qū)：Q3

排名：48 / 76

百分位：

37.5%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)

學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

收錄子集：SCIE

分區(qū)：Q3

排名：200 / 354

百分位：

43.64%

學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION

收錄子集：SCIE

分區(qū)：Q3

排名：46 / 76

百分位：

40.13%

JCR分區(qū)：JCR分區(qū)來自科睿唯安公司,JCR是一個(gè)獨(dú)特的多學(xué)科期刊評價(jià)工具，為唯一提供基于引文數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)信息的期刊評價(jià)資源。每年發(fā)布的JCR分區(qū)，設(shè)置了254個(gè)具體學(xué)科。JCR分區(qū)根據(jù)每個(gè)學(xué)科分類按照期刊當(dāng)年的影響因子高低將期刊平均分為4個(gè)區(qū)，分別為Q1、Q2、Q3和Q4，各占25%。JCR分區(qū)中期刊的數(shù)量是均勻分為四個(gè)部分的。

CiteScore 評價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine雜志CiteScore 評價(jià)數(shù)據(jù)

CiteScore 值：4.2
SJR：0.496
SNIP：0.763

學(xué)科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q2	312 / 797	60%
大類：Engineering 小類：Instrumentation	Q2	56 / 141	60%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經(jīng)驗(yàn)

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine雜志投稿經(jīng)驗(yàn)

該雜志是一本國際優(yōu)秀雜志，在國際上有較高的學(xué)術(shù)影響力，行業(yè)關(guān)注度很高，已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，該雜志在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC綜合專業(yè)領(lǐng)域?qū)I(yè)度認(rèn)可很高，對稿件內(nèi)容的創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)性要求很高，作為一本國際優(yōu)秀雜志，一般投稿過審時(shí)間都較長，投稿過審時(shí)間平均 12周，或約稿，如果想投稿該刊要做好時(shí)間安排。版面費(fèi)不祥。該雜志近兩年未被列入預(yù)警名單，建議您投稿。如您想了解更多投稿政策及投稿方案，請咨詢客服。