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Ieee Transactions On Reliability
  • 數(shù)據(jù)庫(kù)收錄SCIE
  • 創(chuàng)刊年份1963年
  • 年發(fā)文量132
  • H-index86

Ieee Transactions On Reliability

期刊中文名:可靠性交易ISSN:0018-9529E-ISSN:1558-1721

該雜志國(guó)際簡(jiǎn)稱:IEEE T RELIAB,是由出版商Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本致力于發(fā)布計(jì)算機(jī)科學(xué)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE研究為重點(diǎn),主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果,扼要報(bào)道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展,選載對(duì)學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論,促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展,為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國(guó)際優(yōu)秀雜志,在國(guó)際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。

基本信息:
期刊簡(jiǎn)稱:IEEE T RELIAB
是否OA:未開放
是否預(yù)警:
Gold OA文章占比:16.74%
出版信息:
出版地區(qū):UNITED STATES
出版周期:Quarterly
出版語(yǔ)言:English
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
評(píng)價(jià)信息:
中科院分區(qū):2區(qū)
JCR分區(qū):Q1
影響因子:5
CiteScore:12.2
雜志介紹 中科院JCR分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 投稿經(jīng)驗(yàn)

雜志介紹

Ieee Transactions On Reliability雜志介紹

《Ieee Transactions On Reliability》是一本以English為主的未開放獲取國(guó)際優(yōu)秀期刊,中文名稱可靠性交易,本刊主要出版、報(bào)道計(jì)算機(jī)科學(xué)-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE領(lǐng)域的研究動(dòng)態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗(yàn)和科研成果,介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展,探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法,以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流,提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國(guó)際權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCIE收錄,為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動(dòng)作用,也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為5,最新CiteScore 指數(shù)為12.2。

本刊近期中國(guó)學(xué)者發(fā)表的論文主要有:

  • Novel Discriminant Locality Preserving Projection Integrated With Monte Carlo Sampling for Fault Diagnosis

    Author: He, Yan-Lin; Li, Kun; Liang, Li-Long; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong

  • Fault Diagnosability of Networks With Fault-Free Block at Local Vertex Under MM* Model

    Author: Huang, Yanze; Lin, Limei; Lin, Yuhang; Xu, Li; Hsieh, Sun-Yuan

  • Improved Locality Preserving Projections Based on Heat-Kernel and Cosine Weights for Fault Classification in Complex Industrial Processes

    Author: Zhang, Ning; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong; He, Yan-Lin

  • Resilience Enhancement for Multistate Interdependent Infrastructure Networks: From a Preparedness Perspective

    Author: Wang, Kai; Xu, Zhaoping; Liu, Yu; Fang, Yiping

英文介紹

Ieee Transactions On Reliability雜志英文介紹

IEEE Transactions on Reliability is a refereed journal for the reliability and allied disciplines including, but not limited to, maintainability, physics of failure, life testing, prognostics, design and manufacture for reliability, reliability for systems of systems, network availability, mission success, warranty, safety, and various measures of effectiveness. Topics eligible for publication range from hardware to software, from materials to systems, from consumer and industrial devices to manufacturing plants, from individual items to networks, from techniques for making things better to ways of predicting and measuring behavior in the field. As an engineering subject that supports new and existing technologies, we constantly expand into new areas of the assurance sciences.

中科院SCI分區(qū)

Ieee Transactions On Reliability雜志中科院分區(qū)信息

2023年12月升級(jí)版
綜述:
TOP期刊:
大類:計(jì)算機(jī)科學(xué) 2區(qū)
小類:

COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件 2區(qū)

COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
計(jì)算機(jī):軟件工程 2區(qū)

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 2區(qū)

2022年12月升級(jí)版
綜述:
TOP期刊:
大類:計(jì)算機(jī)科學(xué) 2區(qū)
小類:

COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件 2區(qū)

COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
計(jì)算機(jī):軟件工程 2區(qū)

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 2區(qū)

2021年12月舊的升級(jí)版
綜述:
TOP期刊:
大類:計(jì)算機(jī)科學(xué) 2區(qū)
小類:

COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
計(jì)算機(jī):軟件工程 1區(qū)

COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件 2區(qū)

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 2區(qū)

2021年12月基礎(chǔ)版
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術(shù) 3區(qū)
小類:

COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件 3區(qū)

COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
計(jì)算機(jī):軟件工程 2區(qū)

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 3區(qū)

2021年12月升級(jí)版
綜述:
TOP期刊:
大類:計(jì)算機(jī)科學(xué) 2區(qū)
小類:

COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
計(jì)算機(jī):軟件工程 1區(qū)

COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件 2區(qū)

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 2區(qū)

2020年12月舊的升級(jí)版
綜述:
TOP期刊:
大類:計(jì)算機(jī)科學(xué) 2區(qū)
小類:

COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件 2區(qū)

COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
計(jì)算機(jī):軟件工程 2區(qū)

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 2區(qū)

中科院SCI分區(qū):是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心科學(xué)計(jì)量中心的科學(xué)研究成果。期刊分區(qū)表自2004年開始發(fā)布,延續(xù)至今;2019年推出升級(jí)版,實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)版、升級(jí)版并存過渡,2022年只發(fā)布升級(jí)版,期刊分區(qū)表數(shù)據(jù)每年底發(fā)布。 中科院分區(qū)為4個(gè)區(qū)。中科院分區(qū)采用刊物前3年影響因子平均值進(jìn)行分區(qū),即前5%為該類1區(qū),6%~20%為2區(qū)、21%~50%為3區(qū),其余的為4區(qū)。1區(qū)和2區(qū)雜志很少,雜志質(zhì)量相對(duì)也高,基本都是本領(lǐng)域的頂級(jí)期刊。

JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

Ieee Transactions On Reliability雜志 JCR分區(qū)信息

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
收錄子集:SCIE
分區(qū):Q1
排名:8 / 59
百分位:

87.3%

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
收錄子集:SCIE
分區(qū):Q1
排名:13 / 131
百分位:

90.5%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
收錄子集:SCIE
分區(qū):Q1
排名:65 / 352
百分位:

81.7%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
收錄子集:SCIE
分區(qū):Q1
排名:7 / 59
百分位:

88.98%

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
收錄子集:SCIE
分區(qū):Q1
排名:14 / 131
百分位:

89.69%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
收錄子集:SCIE
分區(qū):Q1
排名:42 / 354
百分位:

88.28%

JCR分區(qū):JCR分區(qū)來(lái)自科睿唯安公司,JCR是一個(gè)獨(dú)特的多學(xué)科期刊評(píng)價(jià)工具,為唯一提供基于引文數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)信息的期刊評(píng)價(jià)資源。每年發(fā)布的JCR分區(qū),設(shè)置了254個(gè)具體學(xué)科。JCR分區(qū)根據(jù)每個(gè)學(xué)科分類按照期刊當(dāng)年的影響因子高低將期刊平均分為4個(gè)區(qū),分別為Q1、Q2、Q3和Q4,各占25%。JCR分區(qū)中期刊的數(shù)量是均勻分為四個(gè)部分的。

CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)(2024年最新版)

Ieee Transactions On Reliability雜志CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

  • CiteScore 值:12.2
  • SJR:1.511
  • SNIP:1.989
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 7 / 207

96%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 57 / 797

92%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經(jīng)驗(yàn)

Ieee Transactions On Reliability雜志投稿經(jīng)驗(yàn)

該雜志是一本國(guó)際優(yōu)秀雜志,在國(guó)際上有較高的學(xué)術(shù)影響力,行業(yè)關(guān)注度很高,已被國(guó)際權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCIE收錄,該雜志在COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE綜合專業(yè)領(lǐng)域?qū)I(yè)度認(rèn)可很高,對(duì)稿件內(nèi)容的創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)性要求很高,作為一本國(guó)際優(yōu)秀雜志,一般投稿過審時(shí)間都較長(zhǎng),投稿過審時(shí)間平均 約4.5個(gè)月 ,如果想投稿該刊要做好時(shí)間安排。版面費(fèi)不祥。該雜志近兩年未被列入預(yù)警名單,建議您投稿。如您想了解更多投稿政策及投稿方案,請(qǐng)咨詢客服。

免責(zé)聲明

若用戶需要出版服務(wù),請(qǐng)聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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